矿sem包年-电子显微镜分析TEMandSEM是指

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电子显微镜分析技术在冶金学中的成功应用（在20世纪后期）为30年代后（1970年代初期）在地质学中的应用奠定了基础，并在半个世纪后在结构地质学中变得越来越重要。突破性进展创造了极为有利的条件。电子显微镜技术的应用使结构地质学家能够重新熟悉许多构造区域（尤其是my石）中变质构造岩石的成因。这在很多方面改变了人们的传统理解，也改变了人们进行结构研究时的思维方式，尤其是变质岩地区的结构研究。

透射电子显微镜（TEM，透射电子显微镜）：提出位错理论20多年后，20年后，科学家首次成功地观察到直接在变形的矿物颗粒中存在位错结构。样品制备技术影响了电子显微镜技术的广泛推广和应用。直到1970年代初，离子轰击稀化技术的应用促进了透射电子显微镜对矿物变形微观结构的研究的广泛发展。研究很多的矿物主要是石英，辉石和橄榄石。近来，对碳酸盐矿物，硅酸盐矿物和氧化物的研究已经加强。TEM技术是一种非常有用的工具，可用于确定和研究超微区的微观结构特征，以及研究极细颗粒的颗粒形态和晶界结构特征。TEM广泛用于观察和确定变形岩石颗粒的超微结构类型，即位错结构的特征（见图1-10、1-11、1-14?1-17）。观察脱位的基本类型，形式，组合和分布规律；解释矿物颗粒的主要变形机理，岩石流变状态和构造岩石的成因；定量确定变形矿物颗粒中自由位错的密度，然后确定岩石稳态变形条件，即古微分应力条件；TEM有效地确定了变形矿物晶体中的主要滑动系统，即滑动系统的Burger向量；结合变形条件，解释了矿物蠕变的基本规律。

透射电镜的样品制备：有关具体信息，请参见第1章位错研究方法。

扫描电子显微镜（SEM，scanningelectronmicroscopy）：扫描电子显微镜是一种基于电子光学原理使用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜的仪器，从而使物质的精细结构在很高的放大倍率。扫描电子显微镜使用精细聚焦的电子束逐点扫描样品表面，与样品相互作用以产生各种物理信号。这些信号被检测器接收，放大并转换为调制信号，很后显示在荧光屏上，以反映样品表面图像的各种特征。

扫描电子显微镜具有景深大，图像立体效果强，放大倍率大，连续可调，分辨率高，样品室空间大，样品制备简单的特点。它是用于样品表面研究的有效分析工具。它广泛用于微观区域组成，地质样品的形态和方向的综合分析，并且适合于结构地质，岩石学，矿床科学，矿物学和地球化学等多学科研究工作。尤其是，EBSD技术与扫描电子显微镜的集成，以进行晶格优化结构分析，将成为促进新的结构地质理论诞生的重要途径。矿sem包年

扫描电子显微镜（SEM）是进行微结构分析的有效手段（照片7-）。目前，已经进行了研究：①扫描电子显微镜应用于成分分析：与电子探针类似，可以进行微区成分分析，分析的粒径可达几微米；②背散射电子像反映了矿物细颗粒的内部组成，结构和变化规律，尤其是颗粒的三维形态特征。③二次电子图像观察了微粒的三维形态，微粒表面或微粒边界的微观特征；④菊池带用于确定矿物细颗粒或亚晶粒的取向（晶格位置）；⑤SEM阴极发光分析可以更正确地分析变形结构的微观特征，并讨论岩石变形的微观机理和变形过程。

用于扫描电子显微镜分析的样品制备：样品的扫描电子显微镜观察要求因目的不同而不同。要分析样品的表面结构和形态，可以使用原位样品，但需要清洗样品。但是，对于用于正确成分分析的样品，通常需要将它们切成光滑或薄片，以保持表面光滑整洁。对于非导电样品，需要镀金或碳喷涂以获得更好的观察和分析结果。新型日立钨丝扫描电子显微镜的样品尺寸可以达到：直径和高度，可用于观察大样品的表面形态和结构分析。

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